NanoScan 2s Si/3.5/1.8

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝

描述:

该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，**捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行**分析。

· 光束尺寸7µm至~2.3mm

· 功率级范围为~10nW至~10W

· USB 2.0接口

· 包含NanoScan标准或专业软件

· Wavelengths：190-1100nm

· Beam Sizes：7μm - 2.3mm

· Interface：USB 2.0

· Sensor Type：Silicon

· Compatible Light Sources：CW, Pulsed >25kHz

· Power Range：~10nW - ~10W

· Slit Size：1.8µm

· Aperture Size：3.5mm

· Scanhead Size：83mm

Compliance：CE, UKCA, China RoHS

姓名：

电话：

您的需求：

产品名称：硅探测器光束轮廓仪NS2s-Si-3.5-1.8-STD